第一次事故被初步判定为元件质量问题，更换新的晶体管后，系统恢复了正常。但三天后的第二次联调中，同一位置的晶体管再次烧毁，这引起了技术负责人老张的警觉。他调取了两次烧毁时的测试数据，发现晶体管的工作电流和电压都在标准范围内，没有明显异常。
“把 1962 年的标准拿过来。” 老张对资料员说，手指在图纸上反复丈量，“这里的散热设计是不是有问题？” 标准文件中明确规定，功率型晶体管的安装必须保证散热片与环境温度的温差不超过 25℃，而实际测量显示，该位置的散热片温度已经达到 58℃，远超标准要求。
设计组的工程师们对此有不同意见：“现在用的是新型硅管，比 62 年的锗管耐温性好得多，标准是不是可以放宽一些？” 他们拿出晶体管手册，上面标注的最高结温是 150℃，“就算散热差点，也不至于烧得这么快。”
争论还没结束，7 月 20 日，第三次事故发生了，这次烧毁的是另一批次的晶体管，位置也不同。恐慌开始在技术人员中蔓延，距离演习只剩一个月，系统却迟迟无法稳定运行，每个人的脸上都写满了焦虑。
基地指挥部紧急召开会议，作战部的王参谋带来了更坏的消息：“隔壁军区的同类设备也出现了类似问题，已经有两起了。” 他把一份通报放在桌上，“上级很重视，要求我们必须在一周内查明原因，否则演习计划可能要调整。”
排查工作连夜展开。技术人员分成三个小组，分别从元件质量、电路设计和使用环境三个方向入手。元件测试组把库存的晶体管全部开箱检查，按照 1962 年标准的要求，在不同温度、湿度条件下进行参数测试。当测试温度升到 50℃时，问题出现了：部分晶体管的反向击穿电压明显下降，最低的甚至不到标准值的一半。
“这些管子的批次有问题。” 测试组组长拿着数据报告，声音因疲惫而沙哑，“我们查了生产记录，这几批是去年年底赶工期生产的，老化试验时间不够。” 他指着标准文件上的规定，“这里写得很清楚，高温老化必须满 1000 小时，他们只做了 600 小时。”
电路分析组则发现了更严重的问题：为了提高系统响应速度，设计人员在电路中增加了推动级的电流，虽然平均功耗仍在标准范围内，但瞬时峰值已经超出了晶体管的安全工作区。“1962 年标准里特别强调了脉冲工作状态下的参数校核，我们忽略了这一点。” 设计负责人在分析会上承认，“连续工作没问题，但在快速切换时，就容易出问题。”
环境调查组的发现同样令人心惊。测试场地的供电系统存在高频干扰，虽然幅度不大，但会导致晶体管的工作点漂移。“标准里对电磁兼容性有要求，但我们的滤波电路设计得太简单了。” 年轻技术员小张拿着频谱分析仪的记录，脸上满是自责，“以前在实验室里没遇到过这么复杂的电磁环境。”
三天三夜的连续奋战，真相逐渐浮出水面：这次事故是元件质量把关不严、电路设计存在缺陷、使用环境考虑不足共同作用的结果，而这三个方面，都与对 1962 年《元件耐受标准》的执行不到位有着直接关系。当老张把汇总的报告放在桌上时，晨光已经透过窗户照进会议室，在每个人布满血丝的眼睛里，映出复杂的神情。
四、标准的重塑：在教训反思中的自我完善
1966 年 8 月，全国晶体管质量与标准工作会议在北京召开。来自生产厂家、科研院所和使用单位的代表们挤满了会议室，桌上整齐地摆放着两份文件：1962 年的《元件耐受标准》和刚刚整理出来的事故分析报告。窗外的蝉鸣聒噪不休，会议室里却气氛凝重，每个人都明白，这次会议将决定未来元件标准的走向。
“事故不能白出，教训必须吸取。” 主持会议的老专家把烧损的晶体管标本摆在桌上，透过放大镜可以清晰地看到芯片上烧毁的痕迹，“1962 年的标准是不是过时了？我看不是。问题在于我们执行得不够彻底，甚至在某些方面还有所倒退。”
某晶体管厂的厂长第一个站起来发言，声音带着愧疚：“我们承认，为了完成生产指标，在质量上打了折扣。老化试验时间不足，环境测试流于形式，这是对前线战士的不负责任。” 他的厂里生产的晶体管在事故中占了 60%，来开会前，他已经在厂里主持了三天的反思会。
设计单位的代表也做了深刻检讨：“我们过于追求技术指标的先进，忽视了可靠性的基础。对标准的理解停留在表面，没有结合实际使用环境进行细化设计。” 他展示了新旧两种电路设计的对比图，“按照 1962 年标准重新核算后，我们发现原来的设计在三个方面存在隐患，现在已经全部修改。”
会议期间，代表们就标准的修订展开了