连续 196 小时运行测试），1966 年接收流程的操作记录（BDR-66-419）显示完全遵循该规范，验证耗时 37 小时，与 1962 年某批次元件接收耗时误差≤1 小时。

    1962 年核爆后通信设备残骸分析报告（FX-62-37）显示，上海元件厂 1962 年生产的晶体管在 1962 拉德辐射下存活率 100%，1966 年支援元件的辐射试验（FS-66-19）采用相同剂量，存活率 97.3%，差异源于 1962 年元件额外的 0.37 微米防辐射涂层，该工艺在 1966 年因成本优化简化，但核心参数仍满足战术要求。

    hai