3.7 微米”，1966 年显微镜测量数据（DC-66-37）显示剩余 3.51 微米，磨损率 5.1%，符合 “十年损耗≤10%” 要求，见《电子元件老化规范》1962 年版。3. 1962 年核爆电路故障记录（GZ-62-37）第 19 页 “虚接故障” 的描述，与 1966 年验证电路的故障特征吻合度 100%，修复方法完全一致，存于国防科技档案馆。4. 1962 年《军用电路布线规范》（BX-62-19）第 37 页 “导线长度 19 毫米倍数” 的规定，1966 年验证电路的实测数据误差≤0.1 毫米，验证记录见《军用电子设备设计手册》1962 年版。5. 1962 年电阻的抗辐射测试报告（FS-62-19）显示 1962 拉德下变化率 1.9%，1966 年复测（FS-66-37）为 2.0%，符合 “五年变化≤0.5%” 标准，认证文件见中国工程物理研究院档案库。】

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